ကုန်ပစ္စည်းအက...
Roughinness profilometer ပေါင်းစည်းစက်
Roughness Profilometer သည်မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းသောအရာဝတ်ထုများကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသောကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည်၎င်း၏မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင်အမြင့်ခြားနားချက်ကိုတိုင်းတာခြင်းအားဖြင့်အရာဝတ်ထု၏ကြမ်းတမ်းခြင်းကိုအကဲဖြတ်သည်။ ဤကိရိယာသည်ပုံမှန်အားဖြင့်မျက်နှာပြင်အမြင့်ကိုတိုင်းတာရန်နှင့်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့်ပြုပြင်ခြင်းအတွက်ကွန်ပျူတာဆော့ဖ်ဝဲကိုအသုံးပြုရန်လေဆာရောင်ခြည်သို့မဟုတ်စက်ကိရိယာများကိုအသုံးပြုသည်။
Roughness profilometer ၏အဓိကအင်္ဂါရပ်များမှာ -
1. အထူးတိကျစွာတိုင်းတာခြင်း - ကြမ်းတမ်းသော profilometer သည်အများအားဖြင့် 0.1 မိုက်ခရိုမီတာ၏တိကျမှန်ကန်မှုနှင့်အတူမြင့်မားသောတိကျသောတိုင်းတာမှုကိုရရှိနိုင်ပါသည်။
2. Myanmifunityity - ဤကိရိယာသည်ပြားချပ်ချပ်, ကွေးကောက်, ခုံးနှင့်ပတ် 0 န်းကျင်များအပါအ 0 င်မျက်နှာပြင်အမျိုးမျိုးကိုတိုင်းတာနိုင်သည်။
3. ထိရောက်မှု - ကြမ်းတမ်းခြင်း profilometer သည်အရာဝတ်ထု၏မျက်နှာပြင်၏ကြမ်းတမ်းခြင်းကိုလျင်မြန်စွာတိုင်းတာနိုင်သည်။
4. လုပ်ဆောင်ရန်လွယ်ကူသည် - ဤတူရိယာသည်များသောအားဖြင့်ရိုးရှင်းသောနှင့်အသုံးပြုရလွယ်ကူသော interface နှင့် operating method များတွင်အသုံးပြုသူများကိုအသုံးပြုသူများအားထိရောက်စွာတိုင်းတာရန်နှင့်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်ခွင့်ပြုသည်။
5 ။
Droughness profiles များကိုထုတ်လုပ်ခြင်း, သိပ္ပံဆိုင်ရာသုတေသနဌာနများ, အရည်အသွေးစစ်ဆေးခြင်းဌာနများနှင့်အခြားနယ်ပယ်များတွင်ကျယ်ပြန့်စွာအသုံးပြုသည်။ အသုံးပြုသူများသည်အရာဝတ်ထုမျက်နှာပြင်များ၏အရည်အသွေးနှင့်တိကျမှန်ကန်မှုကိုအထောက်အကူပြုသည်။
ပစ္စည်းကိရိယာအမည်: မီတာတိုင်းတာခြင်းပရိုဖိုင်းကို
ပစ္စည်းကိရိယာများ၏နည်းပညာပိုင်းဆိုင်ရာစွမ်းဆောင်ရည်:
အရွယ်အစား - အလျားလိုက်အကွာအဝေး, ဒေါင်လိုက်အကွာအဝေး, linear အကွာအဝေး, အချင်းဝက်နှင့်အချင်းအပါအဝင် dimensions
angle: အလျားလိုက်ထောင့်, ဒေါင်လိုက်ထောင့်, ထောင့်အပါအဝင်
ရာထူးသည်းခံစိတ် - အပြိုင်စနစ်, ဒေါင်လိုက်အပါအဝင်
ပုံဖော်မှုဒဏ်ခံခြင်း - ဖြောင့်မတ်ခြင်း,
အရန်နိုင်ငံ - အရန်အချက်များ, အရန်လိုင်းများ, အရန်စက်ဝိုင်းအပါအ 0 င်
မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းခြင်းသည်မျက်နှာပြင်၏ micromorphology ကိုဖော်ပြရန်စက်မှုလုပ်ငန်းပြုပြင်ခြင်းတွင်အသုံးအများဆုံး parameter ဖြစ်သည်။ ၎င်းသည်စက်မှုအစိတ်အပိုင်းများ၏မျက်နှာပြင်၏ micro geometrice ပုံသဏ် shape ာန်အမှားကိုရောင်ပြန်ဟပ်သည်။ စက်မှုလုပ်ငန်းပြုပြင်ထုတ်လုပ်ရေးလုပ်ငန်းဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့်အတူမျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းခြင်းတိုင်းတာခြင်းနည်းပညာသည်အထူးသဖြင့် 1970 ပြည့်လွန်နှစ်များနှောင်းပိုင်းတွင်သိသာထင်ရှားသည့်တိုးတက်မှုများပြုလုပ်ခဲ့သည်။ Microelectronic Computer applications ၏တဖြည်းဖြည်းလူကြိုက်များမှုနှင့်ခေတ်မီ optical နည်းပညာနှင့်လေဆာရောင်ခြည်နည်းပညာဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့်လေဆာရောင်ခြည်နည်းပညာများဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့်အတူလူကြိုက်များမှုနှင့်အတူ, ထိုကဲ့သို့သော optical processing နှင့် electronic procession ကဲ့သို့သောတိကျသောစက်ကိရိယာများအတွက်အနေအထားသည်ပိုမိုအရေးကြီးသောဖြစ်လာသည်။
Contact Now
