အခြေခံသွေဖည်မှုကိုသုညမျဉ်းနှင့်နှိုင်းယှဉ်လျှင်သည်းခံစိတ်ဇုန်၏အနေအထားကိုဆုံးဖြတ်ရန်အသုံးပြုသည်။ ကွဲပြားခြားနားသောသည်းခံစိတ်ဇုန်ရာထူးနှင့်ရည်ညွှန်းအစိတ်အပိုင်းများကွဲပြားခြားနားသောကိုက်ညီမှုပုံစံ။ အခြေခံသွေဖီအရေအတွက်သည်ညှိနှိုင်းဆောင်ရွက်ရေးအမျိုးအစားများကိုဆုံးဖြတ်သည်။ အမျိုးသားစံစံသတ်မှတ်ချက်သည်အပေါက်များနှင့်ရိုးတံများအတွက်အခြေခံသွေဖည်မှု 28 ကိုသတ်မှတ်သည်။ တစ်ခုချင်းစီသည်လက်တင်အက္ခရာများဖြင့်ကိုယ်စားပြုသည်။ တွင်းများကိုစာလုံးကြီးများဖြင့်ကိုယ်စားပြုပြီး cantry ပုံရိပ်များတိုင်းတာသည့်ကိရိယာများကိုစာလုံးအသေးများဖြင့်ကိုယ်စားပြုသည်။ သူတို့ကအခြေခံသွေဖည် sequence ကိုဖွဲ့စည်း။
တစ်ခု။ 0 င်ရိုး၏အခြေခံသွေဖည်မှုတွင် ~ G ၏အခြေခံသွေဖည်ခြင်းသည်အထက်သွေဖည်မှုမှာအထက်သွေဖည်ခြင်းမှာအပေါက်၏အခြေခံသွေဖည်မှုတွင် ~ G ၏အခြေခံသွေဖည်မှုမှာအောက်ခြေသွေဖည်ခြင်းနှင့်အကြွင်းမဲ့အာဏာတန်ဖိုးသည်ဆင့်ကဲလက်စိမ်းဖြစ်သည်။
2. Axis H နှင့်အပေါက်ပင်အကြားအခြေခံသွေဖည်မှုသည်သုညဖြစ်သည်။
iii ။ Axis JS နှင့် Hole JS တို့အကြားအခြေခံသွေဖည်ခြင်းသည်သုညလိုင်းနှင့်ဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်သည်။
ယေဘူယျအားဖြင့် ~ H သည်ရည်ညွှန်းချက်အပေါက်များနှင့်အံဝင်ခွင်ကျဖြစ်သည့်အရာနှင့်အံ 0 င်သည်။ J ~ n သည်ရည်ညွှန်းအပေါက်နှင့်အသွင်ကူးပြောင်းရေးအလှည့်အပြောင်းတစ်ခုဖြစ်ပြီး P ~ ZC သည်ရည်ညွှန်းအပေါက်နှင့် 0 င်ရောက်စွက်ဖက်မှုကိုဖြစ်ပေါ်စေသည်။
အခြေခံသွေဖည်သည့် sequence ကိုသာသည်းခံနိုင်စွမ်းဇုန်၏အဆုံးကိုသာဖော်ပြသည်။
အပေါက်၏အခြေခံသွေဖည်မှုကြားဆက်ဆံရေးကိုနားလည်ခြင်း 0 င်ရိုးများ 0 င်ရိုးသည်ဒီဇိုင်းတွင်တိကျမှန်ကန်မှုကိုသင့်လျော်စွာလုပ်ဆောင်ခြင်းနည်းလမ်းကိုနက်နက်နဲနဲသုံးသပ်နိုင်သည်။ fit သည်းခံခြင်းအကြားဆက်နွယ်မှုအပေါ်အခြေခံပြီးအပေါက်ဝင်ရိုး၏ရှုထောင့်သည်းခံစိတ်ကိုဆုံးဖြတ်ပါ။
ပုံတိုင်းတာခြင်းတူရိယာ၏လေဆာရောင်ခြည်ရွေးချယ်မှုသည်အမြင့်ဆုံးတစ်ခုတည်းသောအချက်ကိုအာရုံစူးစိုက်ခြင်းနှင့်မျက်နှာပြင်စကင်ဖတ်စစ်ဆေးမှုလုပ်ဆောင်မှုများကိုပေးနိုင်ပြီးစွမ်းအင်သိသာထင်ရှားသည့် Light Diode Laser တို့အားအစိတ်အပိုင်းများမျက်နှာပြင်သို့ထုတ်လွှတ်ခြင်းနှင့်ရောင်ပြန်ဟပ်မှုအလင်းအရင်းအမြစ်များကိုလက်ခံခြင်း။ လက်စွဲပုံရိပ်ကိုတိုင်းတာသည့်ကိရိယာသည်လေဆာနှင့်အစိတ်အပိုင်းများမျက်နှာပြင်ကိုစကင်ဖတ်စစ်ဆေးခြင်းဖြင့်အဆင့်မြင့်မျက်နှာပြင်ပုံရိပ်များကိုရရှိသည်။
ပုံတိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာကျွမ်းကျင်မှုများအတွက် optional laser အာရုံခံကိရိယာများအတွက် qvttl (coaxial လေဆာရောင်ခြည်မှန်ဘီလူး) သို့မဟုတ် 0 င်ရိုးများလေဆာရောင်ခြည်။ ကွဲပြားခြားနားသောမော်ဒယ်များကိုကွဲပြားခြားနားသောမော်ဒယ်များပေါ်တွင် configure လုပ်ထားသည့်မော်ဒယ်များကိုကွဲပြားခြားနားသောရောင်ပြန်ဟပ်မှုသို့မဟုတ်မှန်မျက်နှာပြင်များကဲ့သို့ပင်မျက်နှာပြင်မျက်နှာပြင်၏အလိုအဖြစ်ကွဲပြားခြားနားသောကွဲပြားခြားနားသောမော်ဒယ်များပေါ်တွင်ပြုပြင်ထားသည်။ qvi မှ Axis Drs Laser ကိုပုံရိပ်တိုင်းတာခြင်းတူရိယာများအနေဖြင့်အသုံးပြုသောပုံရိပ်များ၏မှန်ဘီလူးစင်တာမှ အသုံးချ. စံကိုက်ညှိပြီးနောက် coaxial နှင့်သက်ဆိုင်နိုင်သည်။ Gantry Image တိုင်းတာခြင်းကိရိယာသည်အသုံးပြုရန်လွယ်ကူသည်
တစ်ခုတည်းသော point forger စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုသည် Ogp Intelligeny Oscilloscope Image Meace The More Morexurent Infresents ကိုပိုမိုကွဲပြားစေသည်။ 2.5 ရှုထောင်တိုင်းတာသည့်ကိရိယာတန်ဆာပလာကိုဆက်သွယ်ရန်စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုသည်ပုံသဏ္ဌာန်နှင့်မထိနိုင်သောအင်္ဂါရပ်များသို့မဟုတ်မြေမျက်နှာပြင်နယ်နိမိတ်များကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုနိုင်သည်။
စုံစမ်းစစ်ဆေးတိုင်းတာခြင်းသည်အလျားလိုက်သောတင်းမာနေသောစမ်းသပ်စက်တိုင်းတာခြင်းနှင့်တိုင်းတာသည့်ပုံရိပ်တိုင်းတာသည့်ကိရိယာတိုင်းတာမှုပုံစံ၏တိုင်းတာခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင်အဆင့်တစ်ခုဖြစ်နိုင်သည်။ QVI ဆန့်တင်းတင်စမ်းသပ်ခြင်းစက်၏ပုံရိပ် coaxial စံကိုက်ညှိသည်ထူးခြားသောစုံစမ်းစစ်ဆေးမှုတွင်အာရုံခံကိရိယာအားလုံးတွင်ရည်ညွှန်းသည့်သြဒီနိတ်စနစ်တွင်ရှိနေသည်ကိုသေချာစေပြီးမည်သည့်အာရုံခံကိရိယာနှင့်မဆိုတိုင်းတာနိုင်သည်။
စီးရီးစုံစမ်းစစ်ဆေးမှု၏တိုင်းတာမှုတိကျမှန်ကန်မှုကိုရည်ညွှန်းဘောလုံးနှင့်ဆော့ဖ်ဝဲများကိုစံကိုက်ညှိခြင်းဖြင့်စစ်ဆေးနိုင်သည်။ စုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်း, ဖြုတ်လို့ရတဲ့ modulet, prote bracket နဲ့စုံစမ်းမှုကို QVI ကနေ 0 ယ်နိုင်တယ်။ SmartScope Vantagetm, SmartScope Flashtm, SmartScope ziptm စနစ်များတွင်အစပျိုးစက်များကိုရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်သည်။ စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုအားလုံးကိုစုဆောင်းခြင်းနှင့် software control အောက်တွင်သိမ်းထားနိုင်သည်။ QVI ပုံတိုင်းတာခြင်းတူရိယာအရအလုပ်လုပ်သည့်လုပ်ငန်းခွင်နှင့်စုံစမ်းမှုပုံစံကိုပြင်ဆင်ပါ
Zhejiang dexun instrument technology co., ltd
